Caracterização de nanoestruturas de sulfeto de chumbo por microscopia de varredura por sonda.

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dc.contributor.advisorBarboza, Ana Paula Moreirapt_BR
dc.contributor.advisorPrado, Mariana de Castropt_BR
dc.contributor.authorBeato, Felipe Rafael Gomes
dc.contributor.refereeBarboza, Ana Paula Moreirapt_BR
dc.contributor.refereePinto, Elisângela Silvapt_BR
dc.contributor.refereeAlmeida, Ive Silvestre dept_BR
dc.date.accessioned2021-06-29T14:26:05Z
dc.date.available2021-06-29T14:26:05Z
dc.date.issued2020pt_BR
dc.descriptionPrograma de Pós-Graduação em Ciências – Física de Materiais. Departamento de Física, Instituto de Ciências Exatas e Biológicas, Universidade Federal de Ouro Preto.pt_BR
dc.description.abstractApós a obtenção experimental do grafeno em 2004, iniciou-se uma corrida para se conseguir novos materiais bidimensionais - como são chamados materiais com espessura de um ou poucos átomos. Esses materiais possuem propriedades únicas ligadas às suas dimensões, prometendo protagonizar o desenvolvimento da nanotecnologia e da nanoengenharia. Neste trabalho serão apresentados resultados inéditos a respeito da esfoliação mecânica de um novo nanomaterial: o Sulfeto de Chumbo (PbS), mais conhecido como Galena. Para isso serão utilizadas técnicas de Microscopia de Varredura por Sonda (SPM - Scanning Probe Microscopy). Os resultados mostram que o sulfeto de chumbo pode ser mecanicamente esfoliado, em camadas nanométricas, de maneira análoga ao que é feito com outros materiais bidimensionais. Medidas de Microscopia de Força Atômica das amostras revelam o caráter nanométrico dos flocos. Foram realizados testes em soluções ácidas na tentativa de reduzir as contaminações geradas no processo de esfoliação. Análises envolvendo Microscopia de Força Elétrica (EFM – Electric Force Microscopy) e Microscopia de Potencial de Superfície (SKPM – Scanning Kelvin Probe Microscopy) também foram realizadas com o intuito de caracterizar propriedades eletromecânicas desse novo nanomaterial. Este estudo pode representar o primeiro passo no sentido de aplicar o PbS para produção de nanodispositivos eletrônicos.pt_BR
dc.description.abstractenAfter the experimental achievement of graphene in 2004, a race began to obtain new two-dimensional materials: materials with a thickness of one or a few atoms. These materials have unique properties linked to their dimensions, promising to lead the development of nanotechnology and nanoengineering. This work will present unprecedented results regarding the mechanical exfoliation of a new nanomaterial: Lead Sulphide (PbS), better known as Galena. We applied Scanning Probe Microscopy (SPM) techniques. The results show that lead sulfide can be mechanically exfoliated, in nanometric layers, in a similar way to obtain other two-dimensional materials. Atomic Force Microscopy images of the samples reveal the nanometric character of the flakes. Experimental measurements were carried out on acidic solutions in an attempt to reduce the contamination generated in the exfoliation process. Analyzes involving Electric Force Microscopy (EFM) and Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM) have also been carried out in order to characterize the electromechanical properties of this new nanomaterial. This study may represent the first step to apply PbS for the production of electronic nanodevices.pt_BR
dc.identifier.citationBEATO, Felipe Rafael Gomes. Caracterização de nanoestruturas de sulfeto de chumbo por microscopia de varredura por sonda. 2020. 57 f. Dissertação (Mestrado em Ciências – Física de Materiais) – Instituto de Ciências Exatas e Biológicas, Universidade Federal de Ouro Preto, Ouro Preto, 2020.pt_BR
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufop.br/jspui/handle/123456789/13299
dc.language.isopt_BRpt_BR
dc.rightsabertopt_BR
dc.rights.licenseAutorização concedida ao Repositório Institucional da UFOP pelo(a) autor(a) em 15/06/2021 com as seguintes condições: disponível sob Licença Creative Commons 4.0 que permite copiar, distribuir e transmitir o trabalho, desde que sejam citados o autor e o licenciante. Não permite o uso para fins comerciais nem a adaptação.pt_BR
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
dc.subjectCiências dos materiaispt_BR
dc.subjectNanomateriaispt_BR
dc.subjectNanoestruturapt_BR
dc.subjectGalenapt_BR
dc.titleCaracterização de nanoestruturas de sulfeto de chumbo por microscopia de varredura por sonda.pt_BR
dc.typeDissertacaopt_BR
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FIMAT - Mestrado (Dissertações)