Caracterização de imagens de microscopia de força atômica utilizando processamento de imagens.
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Date
2011
Authors
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Publisher
Programa de Pós-Graduação em Engenharia de Materiais. Rede Temática em Engenharia de Materiais, Pró-Reitoria de Pesquisa e Pós-Graduação, Universidade Federal de Ouro Preto.
Abstract
Neste trabalho utilizamos a análise da topologia e da morfologia de filmes finos e relatamos o uso da teoria de escala dinâmica, análise fractal e densidade espectral de potência no estudo das fases de crescimento de filmes finos de polímeros polianilina/poli(ácido sulfônico vinílico) - PANI/PVS. Os filmes foram depositados sobre substratos de vidro pela técnica de automontagem camada a camada (Layer-by-Layer LbL) e caracterizados por microscopia de força atômica AFM (Atomic Force Microscopy). Foram desenvolvidos algoritmos e softwares próprios para medidas da rugosidade e dimensão fractal utilizando métodos uni e bidimensionais. Além disso, realizamos uma comparação quantitativa entre os métodos de rugosidade por meio da definição de superfícies teóricas com rugosidade conhecida. As características determinadas a partir da superfície de filmes finos nos permitiram determinar a influência da concentração da solução, do número de bicamadas e do tempo de imersão na formação do filme fino polimérico. Os resultados das curvas de rugosidade obtidos para os filmes finos mostraram que as superfícies são auto-afins e evidenciaram também a existência de dois processos de crescimento, o primeiro para valores de comprimento menores que a dimensão característica e o segundo para valores de comprimento maiores. Tais comportamentos podem ser atribuídos a região interna e externa dos agregados e podem auxiliar na investigação dos processos de formação de filmes finos. Logo a determinação das características morfológicas dos filmes poliméricos é uma ferramenta a mais, para a escolha do filme com melhores respostas na fabricação e na detecção da concentração de gases, principalmente o NH3.
Description
Keywords
Microscopia de força atômica, Caracterização de imagens, Imagens digitais
Citation
PITHAN, S. L. da S. Caracterização de imagens de microscopia de força atômica utilizando processamento de imagens. 2011. 97 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia de Materiais) – Universidade Federal de Ouro Preto, Ouro Preto, 2011.